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이번 주차에는 Inspection Data를 In Wafer 경향성 관점으로 표현해보고,
Inspection Data와 EDS Data 사이에 관계를 파이썬을 통해 찾아봤다.
특별히 어려웠던 건 없고, Metrology와 Inspection의 차이를 이해하고, 그 중 Inspection 데이터를 시각화해보고, 분석해볼 수 있는 시간이여서 개인적으로 재밌었다.
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